キヤノンITS、AI検査基盤の新バージョン発売–「良品学習機能」で作業負荷を軽減

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　キヤノンITソリューションズ（キヤノンITS）は、AI検査プラットフォーム「Visual Insight Station」の新バージョン「Visual Insight Station V1.1.0」を10月上旬から提供すると発表した。

　今回のバージョンアップでは、同社が開発した新たな良品学習の機能を提供する。この良品学習機能は、大規模な画像データによる事前学習と最適化により、これまで良品学習の課題だった検出性能の改善に加え、学習時間の短縮も実現している。これにより、利用者の検査現場での作業負荷軽減につながるという。良品画像の特徴を学習し、良品画像にはない特徴を異常として検出する手法を採っているため、主に異物検査や外観検査などの用途に適している。

　製造業では、検査工程で目視に頼っていた外観検査をAIに代替、またはアシストさせる動きが活発化しているが、一般的にAI検査で用いられる不良品による学習（不良品学習）は、AIに不良箇所を学習させる工程が必要となる。これにより、不良品の収集に時間がかかるほか、不良箇所を指定するアノテーション作業の負荷が高くなるため、導入までに時間がかかる。一方、良品学習は不良箇所の検出性能が低くなる傾向があった。

　今回のバージョンアップでは、良品学習についての課題を解決すべく、近年のAI技術を基にキヤノンITSが新たな良品学習の機能を開発・搭載した。Visual Insight Station V1.1.0の税別希望小売価格は、200万円。価格はシステム構成などにより異なり、詳細は個別見積もりで提示するとしている。